GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-16 09:03:13 浏览:9921
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基本信息
| 标准名称： | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 |
| 英文名称： | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for dielectric loss angle tangent value |
| 中标分类： | |
| ICS分类： | |
| 发布部门： | 国家标准局 |
| 发布日期： | 1985-11-27 |
| 实施日期： | 1986-12-01 |
| 首发日期： | 1985-11-27 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 提出单位： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 归口单位： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 起草单位： | 天津大学 |
| 起草人： | 徐延献 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1986-12-01 |
| 页数： | 4页 |
适用范围
本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。
前言
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